James Wang
James Wang 博士是通用电气 (GE) 企业研发中心的技术主管。他一直同时担任 GE 可靠性工程和可靠性设计 (DFR) 理事会主席，他还成功领导过 GE 的许多“可靠性设计 (DFR)”和“六西格玛设计 (DFSS)”创新项目。在可靠性测试、可靠性分析方面有着多年的经验。
他先后在上海交通大学取得理学学士学位和理学硕士学位，并在亚利桑那大学世界著名和独有的可靠性工程专业取得博士学位。他在可靠性与维修性工程领域有大约 20 年的从业和研究经验，并先后成为美国数家行业领先公司的可靠性专家。他是 30 多部（篇）出版物和发明揭露书的作者。他已担任可靠性与维修性研讨会（RAMS—可靠性工程领域在全球最大规模的活动）的副主席多年，并且是“IEEE 颜色（金色与橙色）图书”的作者。他曾获 2005 年度“Stan Ofsthun 奖”，并被评为 2003 及 2004 年度“美国杰出专业人士”。
他的工作和研究领域包括可靠性设计或 DFR（方法、过程及培训）、可靠性分析、可靠性预计、可靠性试验（RLT、RGT、RDT、ALT、ADT、HALT、HAST 等）、系统可靠性及可用性建模与分析、可靠性增长、电子产品可靠性、机械可靠性、失效物理学，等等。
家电行业可靠性试验工作的特点、远离和方法，家电可靠性测试方法、可靠性验证测试、加速寿命测试、强化测试、HALT/ALT/HASS。如何利用可靠性测试方法对家电产品研发提供支持，如何将可靠性测试与家电返修数据分析结果进行对应。可靠性试验设计、可靠性试验数据分析及结论。案例说明某家电产品可靠性测试指标、测试方法和测试结论。
